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國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，國網(wǎng)上海市電力公司申請一項(xiàng)名為“戶外全封閉小型高壓隔離負(fù)荷開關(guān)智能控制方法及系統(tǒng)”的專利，公開號CN121530004A，申請日期為2026年1月。專利摘要顯示，本發(fā)明公開了戶外全封閉小型高壓隔離負(fù)荷開關(guān)智能控制方法及系統(tǒng)，涉及智能控制系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：通過邊緣感知層的多源傳感監(jiān)測陣列采集目標(biāo)開關(guān)在歷史時(shí)區(qū)內(nèi)的歷史開關(guān)運(yùn)行數(shù)據(jù)序列集，其中，目標(biāo)開關(guān)為戶外全封閉小型高壓隔離負(fù)荷開關(guān)；利用長短時(shí)記憶網(wǎng)絡(luò)，根據(jù)歷史開關(guān)運(yùn)行數(shù)據(jù)序列集預(yù)測獲取預(yù)設(shè)時(shí)區(qū)內(nèi)的預(yù)測開關(guān)運(yùn)行數(shù)據(jù)序列集；基于預(yù)測開關(guān)運(yùn)行數(shù)據(jù)序列集，以最小化線路損耗、故障停電分鐘數(shù)、電壓越限時(shí)間和電壓暫降次數(shù)為多尋優(yōu)目標(biāo)，對目標(biāo)開關(guān)的控制參數(shù)進(jìn)行迭代優(yōu)化搜索，確定適配控制策略，并按照適配控制策略在所述預(yù)設(shè)時(shí)區(qū)內(nèi)對

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，浙江英能電子科技有限公司申請一項(xiàng)名為“預(yù)驅(qū)動模塊、芯片及驅(qū)動系統(tǒng)”的專利，公開號CN121530363A，申請日期為2026年1月。專利摘要顯示，本發(fā)明提供一種預(yù)驅(qū)動模塊、芯片及驅(qū)動系統(tǒng)，包括：輸入級電路，基于輸入信號的控制為圖騰柱結(jié)構(gòu)電路的輸入端充電或放電；圖騰柱結(jié)構(gòu)電路，輸出預(yù)驅(qū)動電壓，預(yù)驅(qū)動電壓源跟隨圖騰柱結(jié)構(gòu)電路的輸入電壓；第一比較器，產(chǎn)生第一比較結(jié)果；第二比較器，產(chǎn)生第二比較結(jié)果；上拉電路，受控于第一比較結(jié)果，用于加速預(yù)驅(qū)動電壓的升高；下拉電路，受控于第二比較結(jié)果，用于加速預(yù)驅(qū)動電壓的下降；電容，連接在圖騰柱結(jié)構(gòu)電路的輸入端和外置功率管的漏極之間。本發(fā)明的預(yù)驅(qū)動模塊、芯片及驅(qū)動系統(tǒng)自適應(yīng)外置功率管的輸入電容，改善外置功率管開關(guān)時(shí)產(chǎn)生的EMI問題，工作效率高且

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，河南平芝高壓開關(guān)有限公司取得一項(xiàng)名為“一種斷路器裝配工裝”的專利，授權(quán)公告號CN223927252U，申請日期為2024年12月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型提供了一種斷路器裝配工裝，屬于專門適用于制造電開關(guān)的專用設(shè)備或方法技術(shù)領(lǐng)域。斷路器裝配工裝包括底座，底座上裝有支撐板，支撐板用于支撐其中一個(gè)法蘭且支撐板上設(shè)有用于使法蘭與支撐板同軸的第一定位結(jié)構(gòu)，底座上固定有導(dǎo)桿，導(dǎo)桿上安裝有活動件，活動件上裝有定位板，定位板上設(shè)有用于對另外一個(gè)法蘭進(jìn)行定位以使法蘭與定位板同軸的第二定位結(jié)構(gòu)，支撐板相對底座的水平位置可調(diào)或/和定位板相對活動件的水平位置可調(diào)，支撐板或底座上以及定位板或活動件上設(shè)有用于使支撐板和定位板同軸的第三定位結(jié)構(gòu)。通過本實(shí)用新型的裝配工裝可以間接定位固定部法蘭和可

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，西安西電高壓開關(guān)有限責(zé)任公司、中國西電電氣股份有限公司取得一項(xiàng)名為“一種密封端子板氣密性檢測裝置”的專利，授權(quán)公告號CN223925947U，申請日期為2025年4月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型涉及領(lǐng)域，尤其涉及一種密封端子板氣密性檢測裝置，包括上部密封結(jié)構(gòu)、下部密封結(jié)構(gòu)、上注氣管路和下注氣管路；上部密封結(jié)構(gòu)包括上外部套筒和布置于上外部套筒中多個(gè)上內(nèi)部套筒；下部密封結(jié)構(gòu)包括下外部套筒和布置于下外部套筒中的多個(gè)下內(nèi)部套筒；待測密封端子板懸空水平放置于下內(nèi)部套筒中，下內(nèi)部套筒與上內(nèi)部套筒配合壓緊待測密封端子板；下注氣管路的一端與外部汽源連通，另一端與下密封外部腔體、多個(gè)下內(nèi)部套筒連通。本實(shí)用新型中上下密封結(jié)構(gòu)通過外部套筒與內(nèi)部套筒形成雙重密封腔體，結(jié)合上下注氣管路獨(dú)立供氣，

純硬件開關(guān)機(jī)芯片GEK100系列，不用擔(dān)心死機(jī)問題的開關(guān)機(jī)芯片，及一鍵開關(guān)機(jī)芯片的發(fā)展趨勢分析在智能電子設(shè)備全面普及的今天，用戶對設(shè)備穩(wěn)定性的要求愈發(fā)嚴(yán)苛，而開關(guān)機(jī)功能作為設(shè)備與用戶交互的第一道門檻，其可靠性直接決定了產(chǎn)品的用戶體驗(yàn)與市場競爭力。然而，當(dāng)前市面上多數(shù)電子設(shè)備仍受困于開關(guān)機(jī)過程中的死機(jī)難題——當(dāng)設(shè)備遭遇程序跑飛、供電不穩(wěn)、電磁干擾或ESD靜電沖擊時(shí)，往往會陷入“變磚”狀態(tài)，任何操作都無法響應(yīng)，只能通過斷電、拔電源或扣電池的方式強(qiáng)制重啟。這一問題不僅給用戶帶來極大不便，尤其對鋰電池供電設(shè)備用戶極不友好，還迫使開發(fā)者額外增設(shè)復(fù)位按鍵，增加了研發(fā)成本與電路復(fù)雜度。在此背景下，純硬件架構(gòu)的開關(guān)機(jī)芯片應(yīng)運(yùn)而生，其中GEK100系列憑借卓越的穩(wěn)定性與適配性，為行業(yè)提供了“不用擔(dān)心死機(jī)”的優(yōu)

倒裝芯片市場調(diào)研報(bào)告從過去五年的市場發(fā)展態(tài)勢進(jìn)行總結(jié)分析，合理的預(yù)估了倒裝芯片市場規(guī)模增長趨勢，2025年全球倒裝芯片市場規(guī)模達(dá)2512.34億元（人民幣），中國倒裝芯片市場規(guī)模達(dá)762.75億元。報(bào)告預(yù)測到2032年全球倒裝芯片市場規(guī)模將達(dá)352.61億元，2025至2032期間年均復(fù)合增長率為-24.46%。報(bào)告依次分析了Nepes, Intel Corporation, Samsung Group, Global Foundries, Powertech Technology, ASE Group, STATS ChipPAC, STMicroelectronics, Texas Instruments, United Microelectronics, Taiwan Semicond

Wafer IC failure modeFailure ClassificationPhysical Failure (Structure)- Popcorn- Delamination- Crack (Package/Die)Electrical Failure (Connection)- Open- Short- Leakage- FunctionIn-Process Failure (Production)- Front-end (before molding)- Back-end (After molding)- Testing (FT/Burn-in)Reliability Failure (Qualification)- Temperature- Humidity- Pres

當(dāng)前先進(jìn)制程 SoC、功率器件與高集成電源芯片持續(xù)迭代，也有很多人在關(guān)注芯片內(nèi)部的結(jié)構(gòu)，就前不久小米爆火的玄戒O1來說，在發(fā)布不久后就有很多人關(guān)注這款芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，從驗(yàn)證自研真實(shí)性、梳理關(guān)鍵 IP 結(jié)構(gòu)，到還原電源/功率路徑、定位可靠性風(fēng)險(xiǎn)，越來越多的工程判斷需要落到芯片本體與封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)層面?；诖耍酒W(wǎng)正式上線 DECAP 半導(dǎo)體分析服務(wù)，聚焦芯片市場與功率器件兩大市場，補(bǔ)齊從芯片封裝開蓋、芯粒顯微觀察到關(guān)鍵器件結(jié)構(gòu)解析的專業(yè)能力，為產(chǎn)業(yè)提供更具工程指向的樣品級分析與內(nèi)容化交付支持。在介紹業(yè)務(wù)之前，先來簡單了解一下什么是 DECAP？DECAP 常指對已封裝IC或半導(dǎo)體器件進(jìn)行局部開蓋/去膠處理，完整暴露內(nèi)部的晶粒、邦定線和焊盤，在盡量不破壞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的前提下，為后續(xù)目檢、結(jié)構(gòu)識別、失